性能優勢

科研級（jí）CMOS檢測器，全元素分析，開創PPM級元素分析新紀元

噪（zào）聲低 科研級感光元件噪聲小，抗幹擾強，具備防光暈技術

抗（kàng）幹擾 CMOS探測器集（jí）成度高（gāo），可避（bì）免外部電路（lù）引入噪聲

讀取速度快 采用OEO（Optimal Element-Oriented）技術，像（xiàng）素信號單獨讀取，實現參數優化設計（jì）

紫外響應高 超高紫外響應靈敏度，無需鍍膜，實現非金屬元素（N,C,S,P）分析，效果更優

經典雙光室設計，光譜範圍寬，元素分辨率有保證

獨立設計的紫外光學係統，激發台直接采光，專為N，C，S，P等紫外元素測量設計（jì），刻（kè）線數多，分（fèn）辨率高，兼顧高分辨和譜線範圍優勢，譜線範圍寬，分析元素多，性能好

單獨（dú）設計的紫外光學係統，體積小，結構簡單，無死角，采用多孔（kǒng）吹掃技術，可將空氣迅速吹掃（sǎo）幹淨，確保元素分（fèn）析效果

穩定性升級（jí），重新定義（yì）光學（xué）產品穩定性

壓鑄鋁合金整體光室，4級消除應力（lì）處（chù）理

光（guāng）室恒溫設（shè）計，保（bǎo）證光譜位置長期穩（wěn）定，不漂移（yí）

氣流（liú）路的精（jīng）確設計，一切為了結果更穩定

RTMC光譜優化技術，帶來更穩定的體驗

全數字脈衝光源，自動選（xuǎn）擇（zé）能（néng）量保證分析的準確性與重複性

易用性升級，給用戶更簡單的使用體驗

優（yōu）質硬件（jiàn）與特定（dìng）算法的結（jié）合，多重穩（wěn）定保障，更好地監控儀器運行狀態，提升分析效果，減少校（xiào）準頻率

支持全譜分析檢測，拓展性更高（gāo）。增加分析基體和元素無需增加硬件，通過軟件即可擴展分析範圍，使用更靈活

智能（néng）曲線（xiàn）功（gōng）能可滿足對所有材料的（de）分析需求，真（zhēn）正實現（xiàn）未知樣（yàng）品分析，無需糾結模型選擇，操作更加（jiā）簡便

友好的人機交互設計，軟件主（zhǔ）界麵簡（jiǎn）潔清晰，圖（tú）形化（huà）顯示，短時間即可學會並熟練操作（zuò）軟件

新（xīn）增遠程維護功能，可遠（yuǎn）程升（shēng）級固件程序（xù），遠程檢查儀器狀態，對儀器生命周期健康負責

應用領域

應用於冶金、鑄造、機械（xiè）加工、鑄造、金屬材料科（kē）研、航空航天、造船、汽車、海關檢驗、第三（sān）方檢（jiǎn）測等諸多領域。